複素正弦波

2. 正弦波の複素数表示 - 趣味人のブログ 複素正弦波. 正弦波の複素数表示には，極形式，複素指数関数，ベクトル表示，位相遅れ，位相進み，時間微分，積分，角周波数，合成，複素数表示の適用範囲などの方法がある．本記事では，極形式，複素指数関数，ベクトル表示，位相遅れ，位相進み，時間微分，積分，角周波数，合成，複素数表示の適用範囲などの方法を詳しく説明する．. 2

複素正弦波の基礎 - GitHub Pages. 複素正弦波は複素平面の回転運動体となる信号で、振幅、初期位相、角周波数、時刻を持つものです。このページでは複素正弦波の定義、公式、例、相互変換式などを説明します。. 波を記述するための複素数に関する知識 - 中山将伸のホームページ. 今までのわずかな複素関数の知識を元に、目標である波動を複素数表記していく方法とコンセプトを紹介しよう。まず、一般に波動だけど、一番ポピュラーな波動は正弦波である。つまり、図7に示したようなsinの関数の波のこと(*7)。ここで 複素正弦波. 【電子回路】正弦波交流の複素数表示. ということで、実務上は(ref{v複素})と(ref{i複素})が正弦波交流の複素数表示として計算に用いられている。 複素数表示がもたらす最大の恩恵として、 素子の電流-電圧特性計算の各段な簡便化 が挙げられる。. PDF 信号処理論第二 第1回(10/3) - 東京大学. 信号を複素正弦波の重ねあわせとして表現 F (ω)は複素正弦波を基底とした 信号表現の係数のようなもの 線形時不変システム LTI (Linear Time Invariant) system 線形性 時不変性 電気回路、力学系、音響系など 多くの物理システム .. 指数関数（複素数）を使った波動の表し方. ei(ωt+ϕ) = Acos(ωt +ϕ)+iAsin(ωt+ϕ) (3) e i ( ω t + ϕ) = A cos ( ω t + ϕ) + i A sin ( ω t + ϕ) ( 3) となる。 複素正弦波. ここで式 (2)に含まれている cos(ωt +ϕ) cos ( ω t + ϕ) が出てきた。. しかし、 isin(ωt+ϕ) i sin ( ω t + ϕ) もくっついている。. この cosωt cos ω t と sinωt sin ω t を図で表す . 複素正弦波. 4 複素正弦波. 工学と複素正弦波 - GitHub Pages

. 複素正弦波はサイン波の和に分解して計算が簡単になるので、工学や物理学で非常に使われています。このページでは複素正弦波の性質や性質の証明を紹介し、サイン波との関係を解説します。. 交流(複素数表示) | 高校物理の備忘録. 複素数表示 複素正弦波. オイラーの公式 : (7) e i θ = cos θ + i sin θ 電圧の複素数表示 : 電圧の実効値 V e , 角振動数 ω , 位相 θ 0 という3つのパラメタで特徴付けられる交流電圧 V = 2 V e cos ( ω t + θ 0) を複素数 V = V e e i θ 0 に対応させる. V を複素電圧という. 電流の複素数表示 : 電流の実効値 I e , 角振動数 ω , 位相 θ 0 という3つのパラメタで特徴付けられる交流電流 I = 2 I e cos ( ω t + θ 0) を複素電流 I = I e e i θ 0 に対応させる 複素正弦波. 微分と積分の複素数表示.. オイラーの公式 - Wikipedia. 数学 の 複素解析 における オイラーの公式 （オイラーのこうしき、 英: Eulers formula ）とは、 複素指数関数 と 三角関数 の間に成り立つ、以下の 恒等式 のことである： ここで は任意の 複素数 、 は ネイピア数 、 は 虚数単位 、 は 余弦関数 、 は 正弦関数 である。 特に、 とする場合がよく使われ、この場合、 は、 絶対値 , 偏角 の複素数に等しい。 オイラーの公式の図形的な表現。 複素数平面において、複素数 eiθ は、単位円周上の偏角 θ [rad] の点を表す。 オイラーの公式は、複素解析をはじめとする数学の様々な分野や、 電気工学 ・ 物理学 などで現れる微分方程式の解析において重要である。. PDF 複素数表示 V ()cosθ+ θ [V - 大阪電気通信大学. 複素数表示 正弦波交流電圧 瞬時値表示 v(t) =2V sin()ωt +θ [V] 複素数表示 V&=V()cosθ+jsinθ [V] V ：実効値 複素インピーダンス Z&=R+jX [Ω] R：抵抗 [Ω]、X ：リアクタンス [Ω] 実軸 虚軸 V cosθ jV sinθ θ V& 実軸 虚軸. PDF フーリエ変換の復習 - Kyoto U. フーリエ変換の性質. 【線形性】 ax ( t ) + by ( t ) ↔ aX ( ω ) + bY ( ω ) ω【相似性】 x ( at ) ↔ 1 X ( ) | a | a ( a ≠ 0)【時間シフト】 x ( t − b ) ↔ X ( ω ) e − j ω b【周波数シフト】 x ( t ) ejat ↔ X ( ω− a )【畳み込み】

【積】 複素正弦波. 2. ∞ ( x * y )( t ) = ∫ x τ. − ∞ ( ) y ( t .. PDF 信号処理論第二 第2回(10/19) - 東京大学. 線形時不変システムの固有関数は複素正弦波. 複素正弦波の重ね合わせとして信号を表現するFourier変換はシステム論において基本的. しかし,いくつかの重要な関数(定数関数,正弦波・・・)は通常の関数の枠組みではFourier変換できない. 超関数の導入. 超関数 .

. 回路素子の複素数表示と正弦波交流回路計算 | 音声付き電気 .. 電気数学 >. 回路素子の複素数表示と正弦波交流回路計算 複素正弦波. 交流回路は、ベクトルを用いて計算することができる。 複素正弦波. ベクトルは図形を基本としたものであるが、図形に頼るだけでは複雑な回路になると限界が生じてくる。. そこでベクトルによる図形処理を .. PDF デジタル変調と信号解析の基礎 単純な信号解析及び図解による .. 概要 複素正弦波

. 近年のデジタル無線通信で重要な技術である直交変復調とその解析方法を紹介する。 変復調をフーリエ変換に基づく単純な数式のみでモデル化し、ふるまいの図解を試みる。 またRC polyphase filterやヒルベルト変換を導入し、直交変復調との関係を考察する。 応用例として、特に広帯域通信で問題となるIQインバランスのモデルを示し、評価時の入力波形と応答の解析方法を紹介する。 図 RC polyphase filter図 IQインバランスによるイメージ発生. Abstract. 複素正弦波. 正弦波のフェーザ表示（複素数表示） | Imaginary Dive!! 複素正弦波. 指数関数で表された正弦波を「正弦波のフェーザ表示（複素数表示）」と呼びます. 正弦波の変位 ( a(t) ) とフェーザ表示した波は以下の関係にあります.. 計測入門/正弦波の複素指数関数表現とインピーダンス - 武内 .

. 正弦波を簡易的に複素指数関数で表す † 上で述べた指数関数の有用性と、今後も見ていく正弦波の有用性との両方を生かすために、 $$ cos(omega t+theta) =operatorname{Re}big[e^{i(omega t+theta)}big] =operatorname{Re}big[cos(omega t+theta)+isin(omega t+theta)big] $$ 複素正弦波. 正弦波交流のベクトル(フェーザ)表現と複素平面 | 音声付き電気 .. 正弦波交流回路の電圧、電流は瞬時値計算で簡単になるが、位相差や回転などの性質を考慮することで瞬時値をベクトルに置き換えることで計算が簡単になる。この記事では、正弦波交流のベクトルと複素平面の表現と複素平面の表示方法を音声付きで解説する。. PDF 複素数の波動 - seikei.ac.jp. 波の式 . 数学的な取り扱いのため、波を式に表すとき、 正弦波=sin波を使うのが便利である。 周波数f で振動する振幅Aの波の関数φ は、φ=Asin(2πft) と表せる。 cos はsin の位相に90 度=π/2が足されたときの値を示すので、本質的には同じ形の波である。 位相θの波は一般にφ=Asin(2πft+θ) と表される。 0. A. t θ. f : 秒 1 波の数/単位時間. ω = 2πf : 角度変化/単位時間 . exp(jθ) θ=ωt. オイラーの公式を使うと、指数関数によって正弦波を表すことができる。 exp(j2πft)=cos(2πft)+jsin(2πft) 虚数変数の指数関数はガウス平面内で半径1の円周上を回転するので、正弦波状の変化をするのである。. PDF 信号の複素指数関数表現 - Hosei. 複素表現は位相の異なる波を加算する場合の説明に便利である。位相を考慮した余弦波の式は次のようになる。Acos(2πft+ϕ) (26) これを指数関数表現すると次のように変形できる。Aej(2πft+ϕ) = Aej2πftejϕ (27) ejϕ は複素数であるが定数で 複素正弦波. PDF 離散システムに基づく信号処理 - Kyoto U. ・LTIシステム=入力信号とシステムのインパルス応答の畳み込みによって 出力信号が計算される ・離散的複素正弦波信号はLTIシステムの固有関数 ⇒ LTIシステムの特徴は 伝達関数(インパルス応答のz変換)の周波数特性で表現できる. M N. ・再帰型システムy [ n ] = ∑ a. k x [ n − k ] − ∑ bk y [ n − k ] k = 0 k = 1. を使うとIIRフィルタも有限次数の式で表すことができる. LTI離散時間システムの基礎式の証明. 任意の離散時間信号x [ n ]は. x [ n ] = ∑. ∞. x [ = −∞. ] δ [ n − k ] と表すことができる。 (4.9) y n. .. 確定的周期信号のパワーの測定 - MATLAB & Simulink .. 各複素正弦波の理論的な平均パワー (平均二乗) は A 2 / 4 で、この例では 0.25 または -6.02 dB です。 したがって、正の周波数と負の周波数のパワーを考慮すると、平均パワーは 2 × A 2 / 4 になります。 power_theoretical = (A^2/4)*2. power_theoretical = 0.5000 複素正弦波. dB 単位で、正の周波数に含まれるパワーを計算します。 pow2db (power_theoretical/2) ans = -6.0206. 単一正弦波のパワーの測定. 信号の平均パワーを測定するには、 periodogram を呼び出して power オプションを指定します。. PDF 離散時間信号とシステム - 九州工業大学 複素正弦波. 0 = cos 0 + sin 0. 基本角周波数0 を持つ正弦波信号cos 0 , sin. を用いて記述できる 複素正弦波. とがともに複素数の場合 = = 0. 連続時間複素指数信号=. 0の周期性の性質. 性質10が増加するにつれて,信号の振動数も増加する 複素正弦波. 性質2信号は任意の0に対して周期的になる.. 離散正弦波の生成 - MATLAB - MathWorks 日本

dsp.SineWave. 離散正弦波の生成. このページをすべて展開する. 説明

dsp.SineWave System object™ は実数または複素数のマルチチャネルの正弦波信号を生成します。 各出力チャネルには独立した振幅と周波数および位相があります。 実数正弦波および複素正弦波ともに、 Amplitude プロパティ、 Frequency プロパティおよび PhaseOffset プロパティをスカラーまたは長さが N のベクトルにすることができます。 ここで、N は出力でのチャネル数です。 これらのプロパティの少なくとも 1 つを長さが N のベクトルとして指定する場合、他のプロパティに対して指定されたスカラー値は N の各チャネルに対して適用されます。

. JP2019039685A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】位相限定ラプラシアン処理によって得られるデータ（と等価なデータ）を、より高速に得ること。 【解決手段】実施形態の検査システムは、光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから複素 .. JP2018112471A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents 複素正弦波. 【課題】振幅画像から算出された特徴によって過検出が発生するのを抑制することが可能な検査システムを提供する。【解決手段】被検査体において異常が存在する可能性がある異常候補領域が、振幅画像から特定された領域ではなく、かつ位相画像および強度画像のうち少なくとも一方から .. JP3183791B2 - Digital signal processor and digital . - Google Patents 複素正弦波. JP3183791B2 JP30214894A JP30214894A JP3183791B2 JP 3183791 B2 JP3183791 B2 JP 3183791B2 JP 30214894 A JP30214894 A JP 30214894A JP 30214894 A JP30214894 A JP 30214894A JP 3183791 B2 JP3183791 B2 JP 3183791B2 Authority JP Japan Prior art keywords fourier transform fast fourier signal unit transform unit Prior art date 1994-12-06 Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal .. JP2016109462A - 検査システムおよびフレキシブル照明装置 - Google Patents. 【課題】画像処理による検査システムでは、被検査面に対する照明装置の位置や姿勢を変化させることができれば、有意義である。 【解決手段】実施形態の検査システムは、被検査面に対向して配置された曲面状に変形可能な面状の照明部と、上記照明部を変形させる変形機構と、被検査面を .. JP2017146209A - 検査装置及び検査方法 - Google Patents. 【課題】被検査体の異常をより高精度に検出することができる検査装置を得る。【解決手段】実施形態の検査装置は、被検査体の同一の領域の画像データであって被検査体で反射した光の特徴を示す複数の異なる特徴画像データのうち第1の特徴画像データから、異常領域の候補である異常候補 .. JP2019002873A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】異常のサイズを考慮した異常判定を行うことで過検出を抑制すること。【解決手段】実施形態の検査システムは、被検査体に対して光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから出力される画像 .. JP2019002761A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】白点不良を容易に検出すること。【解決手段】検査システムは、被検査体に対して光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部120と、時間相関カメラ110またはそれと等価な動作をする撮像システムから出力される画像データから振幅画像を生成する画像生成部104と .. JP2016224707A - 検査システム - Google Patents 複素正弦波. 【課題】例えば、よりスムーズに複数の撮像領域（検査領域）を撮像することが可能な、検査システムを得る。【解決手段】実施形態の検査システムは、面的な照明部と、照明部によって照らされた検査物の検査面を撮像する時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムにより .. WO2015152307A1 - Inspection system and inspection method - Google Patents 複素正弦波. An inspection system in an embodiment is provided with the following: a planar illumination unit that temporally varies the intensity of light in a periodic manner by spatially moving a striped light-intensity pattern; a time-correlation-image generation unit that generates a time-correlation image using a time-correlation camera or an imaging system that operates in a manner equivalent to a .. JP2017101979A - 検査システム - Google Patents. 【課題】例えば、時間相関カメラで得られた画像について異常検出を実行する処理領域をより設定しやすい検査システムを得る。【解決手段】実施形態の画像検査システムにあっては、光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な . 複素正弦波. JP2018013466A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】被検査体と背景との境界を精度よく特定し、検査領域を適切に決定することが可能な検査システムを提供する。【解決手段】検査システム100は、光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部120，130と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システム110 . 複素正弦波. JP2019178941A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents 複素正弦波. 【課題】異常の有無に関わらず表面の勾配が急激に変化するような領域における過検出を抑制する。【解決手段】実施形態の検査システムは、被検査体に対して光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システム . 複素正弦波. JP2017101977A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】過検出を抑制しながら、塗装不良をより精度よく検出する。【解決手段】実施形態の検査システムは、光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから出力される画像データから、位相画像、振幅 .. JP2018009849A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】異常が存在すると推定される領域をより精度よく決定可能な検査システムを提供する。【解決手段】光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部120と、被検査体を撮像した時間相関カメラ110またはそれと等価な動作をする撮像システムから出力される複素時間相関 . 複素正弦波. introduction to electrical engineering l 13: single phase. 複素正弦波. ELL 100 - Introduction to Electrical Engineering LECTURE 13: SINGLE PHASE AC CIRCUITS 1 Introduction Basics of sinusoid and phasors Average, RMS value of an AC… 複素正弦波. JP2018112470A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents 複素正弦波. 【課題】強度画像から異常候補領域を特定する際に用いる基準を、塗装色によらずに同一化する。【解決手段】実施形態の検査システムは、被検査体に対して光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから .

JP2019039685A - Inspection system and inspection method - Google Patents. To obtain data (or data equivalent to the data) obtained by phase-only Laplacian processing at higher speed.SOLUTION: An inspection system according to an embodiment comprises: a planar illumination unit which causes a periodical time variation and space variation of light intensity; an image data acquisition unit which acquires complex time correlation image data from a time correlation .

. JPH0852136A - 超音波ドプラ診断装置 - Google Patents. (57)【要約】 【目的】 ドプラ偏移周波数の変化をドプラスペクトラ ムとして表示装置に表示すると共に2チャンネルのドプ ラ音として出力する超音波ドプラ診断装置において、上 記ドプラ偏移周波数が所定値を越えてエリアシングを起 した場合でもドプラスペクトラム表示とドプラ音の出力 .. JP2015197345A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】検査精度の向上を図る。【解決手段】実施形態の検査システムは、光の強度の縞パターンの空間的な移動により光の強度の周期的な時間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムによって時間相関画像を生成する時間相関画像生成部と . 複素正弦波. JP2020101417A - 検査システム - Google Patents. 【課題】線傷を高精度に検出すること。【解決手段】実施形態の検査システムは、被検査体に対して光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから前記被検査体の撮像結果として出力される複素時間相関 .. Classical Mechanics - cs.ucsb.eduvandam/teaching/W07_Phys105A/R1 . 複素正弦波. Phys105A, Winter 2007, Wim van Dam, UCSB Classical Mechanics Phys105A, Winter 2007 Wim van Dam Room 5109, Harold Frank Hall [email protected] ww.cs.ucsb.edu .. JP3077881B2 - 復調方法及び復調装置 - Google Patents. JP3077881B2 JP07047057A JP4705795A JP3077881B2 JP 3077881 B2 JP3077881 B2 JP 3077881B2 JP 07047057 A JP07047057 A JP 07047057A JP 4705795 A JP4705795 A JP 4705795A JP 3077881 B2 JP3077881 B2 JP 3077881B2 Authority JP Japan Prior art keywords signal frequency output circuit sampling Prior art date 1995-03-07 Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion.. JP2018040599A - 検査システム - Google Patents. 【課題】被検査体の異常をより高精度に検出する。【解決手段】実施形態の検査システムは、光の強度の周期的な時間変化及び空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから出力される複素時間相関画像を取得する画像取得部と、検査対象面 .. WO2015152306A1 - Inspection system and inspection method - Google Patents 複素正弦波. An inspection system in an embodiment is provided with the following: a planar illumination unit that temporally and spatially varies the intensity of light in a periodic manner; a time-correlation-image generation unit that generates a time-correlation image using a time-correlation camera or an imaging system that operates in a manner equivalent to a time-correlation camera; and an . 複素正弦波. JP2019020365A - 検査システム - Google Patents. 【課題】被検査体の異常をより高精度に検出する。【解決手段】実施形態の検査システムは、光の強度の周期的な時間変化及び空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから、検査対象面の撮像結果として出力される複素時間相関画像データ .. JP2015200632A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】検査精度の向上を図る。 【解決手段】実施形態の検査システムは、光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムによって時間相関画像を生成する時間相関画像生成部と、時間相関画像より、検査 .. Image processing device and inspection system - Google Patents

. To provide a new image processing device and a new inspection system which can improve efficiency of inspection, for example, by analysis on a space frequency of an inspection image.SOLUTION: An image processing device includes: a Fourier transform section for calculating a two-dimensional power spectrum by performing two-dimensional Fourier transform on a complex image; a feature amount .. JP2018048996A - 検査システム - Google Patents. 【課題】例えば、形状の変化が比較的緩やかな異常が検出されやすい検査システムを得る。【解決手段】実施形態の検査システムは、光の強度の縞パターンの空間的な移動により光の強度の周期的な時間変化を与える面的な照明部と、強度と位相とによって表される複素画像である時間相関画像 .

. Image processor and inspection system - Google Patents. PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a new image processor and a new inspection system which can detect an abnormality by analyzing the spacial frequency or the phase of a pattern light, for example.SOLUTION: The image processor includes: a Fourier transform unit for performing Fourier transform on a complex image and obtaining a complex spectrum; a filter unit for extracting a plurality of .. r,t =e r exp jωt - kit - lti · 2.9 vektorielle optik - vdocuments.mx 複素正弦波. Universität Karlsruhe (TH) Optische Systeme Martina Gerken 29.10.2007 2.2 Inhalte der Vorlesung 1. Grundlagen der Wellenoptik 1.1 Die Helmholtz-Gleichung 1.2 Lösungen der… 複素正弦波. JP6316068B2 - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. JP6316068B2 JP2014074880A JP2014074880A JP6316068B2 JP 6316068 B2 JP6316068 B2 JP 6316068B2 JP 2014074880 A JP2014074880 A JP 2014074880A JP 2014074880 A JP2014074880 A JP 2014074880A JP 6316068 B2 JP6316068 B2 JP 6316068B2 Authority JP Japan Prior art keywords image data inspected inspection time correlation time Prior art date 2014-03-31 Legal status (The legal status is an assumption and is .. JP2017101977A - Inspection system and inspection method - Google Patents. PROBLEM TO BE SOLVED: To detect poor painting more accurately while suppressing excessive detection.SOLUTION: An inspection system according to an embodiment of the present invention comprises: a facial illumination unit for giving a cyclical temporal change and spatial change of luminous intensity; an image generation unit for generating a phase image, an amplitude image, and an intensity .. JP2021127999A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】簡単な制御で広い検査対象面の検査を行うこと。【解決手段】検査システムは、明領域と暗領域とが周期的に配置されたパターンの移動によって光の強度の周期的な時間変化および空間変化を被検査体に対して与える面的な照明部であって、パターンは移動方向がそれぞれ異なる2以上 .. JP2018115937A - 検査システム - Google Patents. 【課題】被検査体の不良の判別精度を向上させる。【解決手段】実施形態の検査システムは、光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、被検査体を撮像した時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから出力される複素時間相関画像を取得する画像 .. JP2021012042A - 撮像システム - Google Patents. 【課題】被検査体が搬送路上を搬送されている状態で被検査体の時間相関画像を撮像すること。【解決手段】本開示の一例としての撮像システムは、明領域と暗領域とが周期的に配置されたパターンの移動によって光の強度の周期的な時間変化および空間変化を搬送路上を搬送される被検査体に .. JP2019174288A - 検査システム - Google Patents 複素正弦波. 【課題】過検出の発生を抑制すること。【解決手段】実施形態の検査システムは、被検査体に対して光の強度の周期的な時間変化および空間変化を与える面的な照明部と、時間相関カメラまたはそれと等価な動作をする撮像システムから被検査体の撮像結果として出力される複素時間相関画像 .. JP2019174232A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】異常が存在する可能性がある異常領域をより正確に特定する。【解決手段】実施形態の検査システムは、強度画像と、時間相関画像に基づいて導出可能な複数の画像と、を含む複数の検査画像のそれぞれに、画像処理に基づく異常検出を実行することで、複数の検査画像のそれぞれに . 複素正弦波. JP2018146364A - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. 【課題】検査に要するタクトタイム（サイクルタイム）を短縮する。 【解決手段】実施形態の検査システムは、第1縞パターンが1周期分移動した後、シームレスで、第2縞パターンが1周期分移動するように、複数の縞パターンを順次切り替えて出力する照明部と、複数の縞パターンの出力開始の . 複素正弦波

. JP2017101979A - Inspection system - Google Patents 複素正弦波. PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an inspection system with which it is possible to more easily set, for an image obtained by a time correlation camera, for example, a processing region in which abnormality detection is executed.SOLUTION: An image inspection system according to an embodiment of the present invention comprises: a facial illumination unit for giving a cyclical temporal change and .

JP2018116026A - Illumination device and light-transmissive member .. PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an illumination device and light-transmissive member, which allow for increasing brightness difference between bright and dark portions of a pattern of light, for example.SOLUTION: An illumination device comprises a projector configured to emit patterned light including bright and dark portions, and a light-transmissive member disposed between the projector and .. JP6800463B2 - 検査システムおよび検査方法 - Google Patents. JP6800463B2 JP2017041045A JP2017041045A JP6800463B2 JP 6800463 B2 JP6800463 B2 JP 6800463B2 JP 2017041045 A JP2017041045 A JP 2017041045A JP 2017041045 A JP2017041045 A JP 2017041045A JP 6800463 B2 JP6800463 B2 JP 6800463B2 Authority JP Japan Prior art keywords time fringe pattern image data reference signal time correlation Prior art date 2017-03-03 Legal status (The legal status is an .. JP2018112470A - Inspection system and inspection method - Google Patents. PROBLEM TO BE SOLVED: To identify reference being used when an abnormality candidate area is identified from an intensity image, without depending on a paint color.SOLUTION: An inspection system of an embodiment comprises: a planar illumination unit that gives periodical time change and space change of light intensity to an object to be inspected; an image generation unit that generates an .. JP6420131B2 - Inspection system and inspection method - Google Patents. JP6420131B2 JP2014244500A JP2014244500A JP6420131B2 JP 6420131 B2 JP6420131 B2 JP 6420131B2 JP 2014244500 A JP2014244500 A JP 2014244500A JP 2014244500 A JP2014244500 A JP 2014244500A JP 6420131 B2 JP6420131 B2 JP 6420131B2 Authority JP Japan Prior art keywords image data light intensity amplitude abnormality Prior art date 2014-12-02 Legal status (The legal status is an assumption and is not .

JP2017146208A - Inspection device and inspection method - Google Patents. PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device that can further accurately detect abnormality in an inspection target body.SOLUTION: An inspection device of an embodiment comprises: a detection unit that detects abnormality candidates that are candidates for an abnormal area from a plurality of pieces of different feature image data that are image data on a single area of an inspection .. JP2021127999A - Inspection system and inspection method - Google Patents. To inspect a wide surface range of an inspection object with simple control.SOLUTION: The inspection system includes: an illuminating unit that is a surface lighting unit giving a periodic temporal change and spatial change of light intensity to an object to be inspected by moving a pattern in which a bright region and a dark region are periodically arranged, containing two or more patterns .. JP2018013466A - Inspection system and inspection method - Google Patents. PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection system which accurately specifies a boundary between a body to be inspected and a background and can appropriately determine an inspection region.SOLUTION: An inspection system 100 includes: illumination sections 120 and 130 which give a periodic time change of intensity of light and a space change; an image acquisition section 104 which acquires .. JP2019020365A - Inspection system - Google Patents. To detect abnormality of an inspection object with higher accuracy.SOLUTION: An inspection system according to one embodiment of the present invention comprises: a facial illumination unit for adding cyclical temporal and spatial changes of light intensity; an image generation unit for generating phase image data from complex time correlation image data outputted as a result of imaging an .. JP6553412B2 - Inspection system - Google Patents. JP6553412B2 JP2015110446A JP2015110446A JP6553412B2 JP 6553412 B2 JP6553412 B2 JP 6553412B2 JP 2015110446 A JP2015110446 A JP 2015110446A JP 2015110446 A JP2015110446 A JP 2015110446A JP 6553412 B2 JP6553412 B2 JP 6553412B2 Authority JP Japan Prior art keywords inspection image data light imaging time correlation Prior art date 2015-05-29 Legal status (The legal status is an assumption and is .. JP2019002761A - Inspection system and inspection method - Google Patents. To easily detect a white spot defect.SOLUTION: An inspection system of the present invention comprises: a planar illumination unit 120 for giving cyclical temporal and spatial changes of light intensity to a test object; an image generation unit 104 for generating an amplitude image from the image data outputted from a time correlation camera 110 or an imaging system that operates the same way .. JP2015200632A - inspection system and inspection method - Google Patents 複素正弦波. PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the inspection accuracy.SOLUTION: The inspection system of an embodiment includes: a planer illumination unit for causing a periodical time change and a spatial change of the light intensity; a time correlation image generation unit for generating a time correlation image using a time correlation camera or an imaging system that performs an operation equivalent ..